聯(lián)系人:翟經(jīng)理
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一、測量導電回路電阻的目的
高壓開(kāi)關(guān)導電回路直流回阻包括套管導電桿電阻、導電與觸頭連接處電阻和動(dòng)、靜觸頭之間的接觸電阻等。導電桿電阻一般不會(huì )變化,其他兩處的鏈接電阻和接觸電阻由于各種因素之間的影響(如觸頭表面氧化、觸頭間殘留有機械雜物或碳化物、接觸壓力下降、接觸面積減小和短路電流燒傷等),常常有所增加。所以測量每相導電回路電阻,實(shí)際上是檢查動(dòng)、靜觸頭之間的接觸電阻和連接電阻的變化,主要是判斷動(dòng)、靜觸頭是否接觸良好。運行中、動(dòng)、靜、觸頭之間的接觸電阻往往會(huì )增大,使正常運行工作電流下發(fā)生過(guò)熱,尤其是通過(guò)短路電流時(shí),觸頭發(fā)熱更嚴重,可能燒傷周?chē)^緣或造成觸頭燒溶粘接,從而影響開(kāi)關(guān)跳閘時(shí)間和開(kāi)斷能力,甚至產(chǎn)生拒動(dòng)發(fā)生,所以相關(guān)規程規定,開(kāi)關(guān)在安裝后、頂起(包括大小修)和開(kāi)斷短路電流一定次數后,都要進(jìn)行此項試驗。
二、試驗方法
S—電源控制開(kāi)關(guān);Rf—分壓電阻;Rx—被測電阻;
PA—直流電流表;PV—直流毫伏表
由于導電回路接觸電阻很小,都是微微歐數量級,所以電壓表內阻遠遠大于此值,故導電回路電阻值Rx=U/I。
根據動(dòng)、靜頭的接觸面上有一層極薄的膜電阻的影響,如果直流電流太小,則所測電阻小于實(shí)際電阻值,不準確。相關(guān)規程要求直流電流I≥100A,使接觸面上的極薄的膜電阻擊穿,所測電阻值與實(shí)際電阻值相符合。
三、目前開(kāi)關(guān)導電回路電阻測試儀
以前高壓開(kāi)關(guān)導電回路電阻測量采用直流伏安法,電流一般在10A,電源由蓄電池供給。顯然不符合《規程》要求的I≥100A。隨著(zhù)電學(xué)技術(shù)的發(fā)展,目前開(kāi)關(guān)導電回路電阻測量都采用專(zhuān)門(mén)的測試儀,如我公司自行研發(fā)生產(chǎn)的回路電阻測試儀。
回路電阻測試儀具有以下優(yōu)點(diǎn):
1.電流滿(mǎn)足要求,I≥100A,200A可選,所以測量值和實(shí)際值相符合。
2.測試儀內部附有標準電阻,測量精度較高。
3.電流值能自動(dòng)恒流,有效減少主流電源波動(dòng)對試驗結果的影響。
4.采用四端子接線(xiàn)法,有效排除測試線(xiàn)電阻對試驗結果的影響。
5.測量電流自動(dòng)鎖定,不需要人工調節。
6.配備高速熱敏打印機,實(shí)時(shí)打印試驗結果,便于記錄。
四、測量注意事項
1.如果采用儀器測量,則按說(shuō)明書(shū)進(jìn)行。如果采用伏安法測量,防止因開(kāi)關(guān)測量過(guò)程中跳閘而燒壞毫儀表。
2.測量前將開(kāi)關(guān)電動(dòng)合閘后測量,只有允許手動(dòng)合閘的開(kāi)關(guān)才可以在手動(dòng)合閘后進(jìn)行測量。
3.在測前應該將開(kāi)關(guān)跳合幾次,以消除觸頭之間氧化膜影響。
4.如果開(kāi)關(guān)有主、輔觸頭或并聯(lián)支路,應對并聯(lián)的每一對觸頭分別分別進(jìn)行測量。測量時(shí)應在非被測的觸頭間墊以薄的絕緣物。